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国产SiC碳化硅MOSFET功率器件可靠性及一致性如何确保？电力电子系统研发商一般需要碳化硅MOSFET功率器件供应商提供可靠性测试报告的原始数据和器件封装的FT数据。SiC碳化硅MOSFET可靠性报告原始数据主要来自以下可靠性测试环节的测试前后的数据对比，通过对齐可靠性报告原始数据测试前后漂移量的对比，从而反映器件的可靠性控制标准及真实的可靠性裕量。SiC碳化硅MOSFET可靠性报告原始数据主要包括以下数据:SiC碳化硅MOSFET高温反偏High Temperature Reverse Bias HTRBTj=175℃VDS=100%BVSiC碳化硅MOSFET高温栅偏（正压）High Temperature Gate Bias（+）HTGB（+）Tj=175℃VGS=22VSiC碳化硅MOSFET高温栅偏（负压）High Temperature Gate Bias（-）HTGB（-）Tj=175℃VGS=-8VSiC碳化硅MOSFET高压高湿高温反偏High Voltage, High Humidity, High Temp. Reverse BiasHV-H3TRBTa=85℃RH=85%VDS=80%BVSiC碳化硅MOSFET高压蒸煮AutocleACTa=121℃RH=100%15psigSiC碳化硅MOSFET温度循环Temperature CyclingTC-55℃ to 150℃SiC碳化硅MOSFET间歇工作寿命Intermittent Operational LifeIOL△Tj≥100℃Ton=2minToff=2minFT数据来自碳化硅MOSFET功率器件FT测试(Final Test，也称为FT)是... [详细介绍]